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Texas Instruments TPD2E2U06 Hochgeschwindigkeits-ESD-Schutzbaustein

Der Texas Instruments TPD2E2U06 Hochgeschwindigkeits-ESD-Schutzbaustein ist ein Zweikanal-ESD-Baustein mit extrem niedriger Kapazität, der für Niederspannungs-I/O-Schnittstellen ESD-Schutz auf Systemebene bietet. Die Komponente bietet ±25KV IEC-Kontakt- und ±30KV IEC-Luftspalt-ESD-Schutz. Dank der 1,5-pF-Leitungskapazität des TPD2E2U06 eignet sich dieses Bauteil für eine breite Palette von Anwendungen. Typische Anwendungsschnittstellen sind USB 2.0, LVDS und I2C. Zu den typischen Anwendungen gehören Spielautomaten, E-Books, tragbare Mediaplayer und Digitalkameras.

The TPD2E2U06-Q1EVM Dual-Channel High-Speed ESD Protection Evaluation Module helps designers evaluate the features and capabilities of the TPD2E2U06 High-Speed ESD Protection Devices. TPD2E2U06-Q1EVM includes seven TPD2E2U06-Q1's and offers IEC61000-4-2 compliance testing, 4-port s-parameter analysis, USB 2.0 throughput analysis, and electrostatic discharge (ESD) clamping waveforms during an ESD event. 

Merkmale

  • Provides system-Level ESD Protection for Low-Voltage IO Interface
  • IEC 61000-4-2 Level 4 ±25kV (contact discharge)
  • ±30kV (air-gap discharge)
  • IO Capacitance 1.5pF (Typ)
  • DC Breakdown Voltage 6.5V (Min)
  • Ultra-Low Leakage Current 10nA (Max)
  • Low ESD Clamping Voltage
  • Industrial Temperature Range: -40°C to +125°C
  • Small Easy-to-Route DRL Package

Applikationen

  • Gaming Machines
  • eBook
  • Portable Media Players
  • Digital Camera

Datasheets

Functional Block Diagram

Blockdiagramm - Texas Instruments TPD2E2U06 Hochgeschwindigkeits-ESD-Schutzbaustein
Veröffentlichungsdatum: 2014-12-16 | Aktualisiert: 2025-02-13