NXP Semiconductors RD33774PDSTEVB Evaluierungsboard
Das NXP Semiconductors RD33774PDSTEVB Evaluierungsboard verfügt über einen MC33774ATP integrierten Batteriezellen-Controller-Schaltkreis (IC), der bis zu 18 Zellen überwacht. Dieses RD33774PDSTEVB Evaluierungsboard bietet einen integrierten passiven Zellenausgleich mit einer Spitze von 200 mA. Das RD33774PDSTEVB Evaluierungsboard ist ideal für einschnelles Prototyping einer Hochspannungs-Batteriemanagementsystem(HVBMS)-Hardware und Software. Dieses Evaluierungsboard wird mit einem Physical-Layer-Transformator-Transceiver-Treiber (MC33664) verwendet, um MCU-SPI-Datenbits in Impuls-Bit-Informationen umzuwandeln und umgekehrt. Typische Applikationen umfassen Automotive- und Industrie-Bauteile.
Merkmale
- Ein MC33774ATP Batteriezellen-Controller, der bis zu 18 Zellen überwacht
- Daisy-Chain-Bauteil-Verbindung
- LED-Anzeige für Betriebsmodus
- Zellenausgleichs-Widerstände (22 Ω pro Einzelzelle)
- Zellenmesseingang mit RC-Filter
- EEPROM (über die I2C-Schnittstelle mit dem IC verbunden) zum Speichern benutzerdefinierter Kalibrierungsparameter
Applikationen
- Automobil-Applikationen
- Batteriemanagementsystem (BMS)
- Industrie-Bauteile
Blockdiagramm
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NXP Semiconductors MC33774A Li-Ionen-Batteriezellen-Controller-ICs
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Veröffentlichungsdatum: 2024-05-09
| Aktualisiert: 2024-05-24