Vishay Semiconductors TA6FxxCA PAR® Überspannungsschutzvorrichtungen
Die Überspannungsschutzvorrichtungen TA6FxxCA PAR® von Vishay Semiconductors sind bidirektional und verfügen über eine Spitzenimpulsleistung von 600 W mit einer Wellenform von 10/1000 μs. Die Bauteile haben ein Gehäuse mit sehr niedrigem Profil mit einer typischen Höhe von 0,95 mm. Diese Überspannungsschutzvorrichtungen sind für eine Betriebstemperatur von TJ = 185 °C ausgelegt und eignen sich für Anforderungen mit hoher Zuverlässigkeit und in Fahrzeuganwendungen. Die Überspannungsschutzvorrichtungen TA6FxxCA PAR® von Vishay Semiconductors sind werden mit einem optimierten Design mit Anschlusspassivierung und passivierter anisotroper Gleichrichtertechnologie hergestellt und über eine ausgezeichnete Klemmfähigkeit verfügt.Merkmale
- Sehr niedriges Profil mit einer typischen Höhe von 0,95 mm
- Optimiertes Design mit Anschlusspassivierung und passivierter anisotroper Gleichrichtertechnologie
- TJ = 185 °C Kapazität geeignet für Anforderungen mit hoher Zuverlässigkeit und in Fahrzeuganwendungen.
- Für die automatische Bestückung geeignet
- Bidirektional
- Hervorragende Klemmfähigkeit
- Spitzenimpulsleistung von 600 W (10/1000 μs)
- AEC-Q101-qualifiziert
- ESD-Fähigkeit gemäß IEC 61000-4-2
- 30 kV (Luft)
- 30 kVA (Kontakt)
- Erfüllt MSL-Stufe 1 gemäß J-STD-020, LF-Spitzenwert von 260 °C
- SlimSMA-Gehäuse (DO-221AC)
- Die Formmasse erfüllt die Brennbarkeitsklasse UL 94 V-0
- Die Basis P/NHM3 ist halogenfrei, RoHS-konform und AEC-Q101-qualifiziert
- Anschlüsse sind mattverzinnt, lötbar gemäß J-STD-002 und JESD22-B102
- HM3-Suffix erfüllt den Whisker-Test gemäß JESD 201 Klasse 2
- Polarität (kein Kathodenband für bidirektionale Typen)
Technische Daten
- Durchschlagspannung (VBR) von 12 V bis 100 V verfügbar
- Sperrspannung (VWM) von 10,2 V bis 85,5 V verfügbar
- Spitzenimpuls-Verlustleistung (PPPM) von 8 W
- Maximale Sperrschicht-Betriebstemperatur von 185 °C
Applikationen
- Für den Schutz empfindlicher Elektronik gegen Spannungstransienten, die durch induktives Lastschalten und Blitzeinschläge verursacht werden bei:
- ICs
- MOSFETs
- Signalleitungen von Sensoreinheiten für Fahrzeuge
Gehäuseaußenabmessungen
Veröffentlichungsdatum: 2025-01-08
| Aktualisiert: 2025-01-23
