Texas Instruments TPS7H6003EVM-CVAL Evaluierungsmodul
Das TPS7H6003EVM-CVAL Evaluierungsmodul von Texas Instruments akzeptiert einen Eingang bis zu 150 V, damit Benutzer die Zuverlässigkeit des TPS7H6003-SP durch den Antrieb des EPC2307 testen können. Das TPS7H6003EVM-CVAL Evaluierungsmodul von TI ist standardmäßig für den Betrieb des TPS7H6003-SP im PWM-Modus ausgelegt. Der TPS7H6003-SP empfängt einen Eingang von einem Schaltsignal und entwickelt intern ein komplementäres Signal. Diese Funktion kann in den IIM-Modus gewechselt werden, in dem die zwei Ausgänge unabhängig voneinander arbeiten.
Merkmale
- Wählbarer Eingangsverriegelungsschutz im unabhängigen Eingangsmodus
- Geteilte Ausgänge für einstellbare Ein- und Ausschaltzeiten
- Typische Laufzeitverzögerung von 25 ns im unabhängigen Eingangsmodus
- Spitzenquellstrom von 1,5 A, Spitzensenkstrom von 3 A
- Bis zu 150-V-Betrieb auf dem PVIN-Eingang
- PWM- und IIM-Modi werden unterstützt
- Große Pads, um eigene Induktivitäten und Kondensatoren zu platzieren
- Integrierte Totzeit für PWM-Modus
Applikationen
- Kommunikationsnutzlast
- Befehls- und Datenverarbeitung
- Elektrisches Stromversorgungssystem für Satelliten
- Weltraumsatelliten-Point-of-Load-Versorgung für FPGA-Core-Spannungsschienen
Layout
Zugehörige EVMs
Texas Instruments TPS7H60x5EVM Evaluierungsmodule
Entwickelt, um die TPS7H60x5-SEP Gate-Treiber schnell und einfach zu demonstrieren.
Texas Instruments TPS7H6013EVM-CVAL GATE Driver Evaluierungsmodul
Bewertet das TPS7H6013-SP Bauteil, einen strahlungsgehärteten QMLV 60 V Halbbrücken-GaN-Gate-Treiber.
Texas Instruments TPS7H6023EVM-CVAL Treiber-Evaluierungsmodul
Testen und bewertet den TPS7H6023-SP, einen strahlungsgeschützten 22 V Halbbrücken-GaN-Gate-Treiber.
Veröffentlichungsdatum: 2023-08-11
| Aktualisiert: 2024-09-12