Texas Instruments LOG300DEVM und LOG300RGTEVM Evaluierungsmodule

Texas Instruments LOG300DEVM und LOG300RGTEVM Evaluierungsmodule (EVMs) sind zur Evaluierung des Betriebsverhaltens eines integrierten logarithmischen Detektors, eines rauscharmen Verstärkers (LNA) und eines Eingangsfrequenzdetektors in einem einzigen LOG300 Bauteil zu testen. Das Evaluierungsmodul kann über den Einzelversorgungsbereich von 3 V bis 5,2 V betrieben werden. Der LOG-Detektorblock kann den Eingang von 25µV bis 1,6 Vp verarbeiten, während das komplette analoge Frontend (LNA + Log-Detektor kombiniert) den Eingangsbereich von 6µVp bis 200 mVp unterstützt. Eine Back-to-Back-Diode am LNA-Eingang schützt ihn vor Hochspannungsspitzen. Die LOG300DEVM und LOG300RGTEVM Evaluierungsmodule (EVMs) von Texas Instruments enthalten einen SMA-Steckverbinder für alle Ein- und Ausgangspins und einen Stromanschluss für die Versorgung.

Merkmale

  • Konfigurierbar zur separaten Verwendung und Evaluierung von LNA- und LOG-Detektorblöcken
  • Bietet die Flexibilität, den integrierten BPF zu verwenden oder einen externen BPF anzuschließen
  • Einfach zu verwendende SMA-Steckverbinder für alle Eingangs- und Ausgangssignale
  • Layout zur Minimierung von parasitärer Kopplung und Rauschen konfiguriert
  • Steckbrücke zum Deaktivieren und Aktivieren des LNA und des gesamten AFE

Lieferumfang Kit

  • LOG300DEVM oder LOG300RGTEVM Evaluierungsmodul
  • Haftungsausschluss für das Evaluierungsmodul lesen

Applikationen

  • Lichtbogen-Störungserkennung
  • Ultraschallerkennung für doppelten Papiereinzug
  • Erkennung von Ultra-Schall-Materialien
  • Blasenzähler und Detektion in Flüssigkeit
  • Ultra-Schall-Entfernungsmessung

Board-Layout

Schaltungsanordnung - Texas Instruments LOG300DEVM und LOG300RGTEVM Evaluierungsmodule
Veröffentlichungsdatum: 2024-10-23 | Aktualisiert: 2025-01-30