Texas Instruments LM74670-SQEVM Evaluierungsmodul (EVM)
Das Texas Instruments LM74670-SQEVM Evaluierungsmodul (EVM) demonstriert den Umpolungsschutz als Ersatz für Schottky-Dioden und n-Kanal-MOSFETs. In dieser Umpolungsschutz-Lösung wird der LM74670 Smart-Diodencontroller zur Bereitstellung eines Gate-Antriebs für externe 40 V VDS) n-Kanal-MOSFETs verwendet. Das LM74670-SQEVM emuliert die Eigenschaften eine idealen Diode, wenn sie mit einem Netzteil reihengeschaltet wird. Wenn eine negative Spannung am Eingang erkannt wird, zieht der LM74670 das MOSFET-Gate nach unten und isoliert den angeschlossenen Lastanschluss vom Netzteil. Die TVS-Spannungsklemmdioden D1_1 und D1_2 ermöglichen ein sicheres Testen der transienten Impulse gemäß ISO7637.
Merkmale
- Maximale Sperrspannung: -45 V
- Schnelle Reaktion auf dynamische Stromumkehr <10 μs
- Maximale Eingangsspannung ist die Drain-Source-Spannung des MOSFETs: 40 V
- Maximaler Laststrom ist der Drain-Strom (Id): 75 A
- Ohne IQ und mit niedrigem Sperrstrom
- Erfüllt die Automotive-Anforderungen gemäß ISO7637 und CISPR25
Verwandtes Produkt
Texas Instruments LM74670-Q1 Smart-Diodengleichrichter-Controller
Wird mit einem n-Kanal-MOSFET in Halb- oder Vollbrückengleichrichter-Architekturen für Lichtmaschinen verwendet.
Veröffentlichungsdatum: 2016-02-09
| Aktualisiert: 2022-03-11