Texas Instruments HALL-HINGE-EVM Evaluierungsmodul
Das HALL-HINGE-EVM Evaluierungsmodul von Texas Instruments bietet 3D-gedruckte Strukturen und einen Magneten zur Evaluierung des TMAG5231B1 in einem Gerät mit Scharnierabdeckungsverschluss. Der Scharnierabdeckungsverschluss wird häufig in Laptop-Deckelverschlüssen und weiteren Deckel- und Türerkennungsapplikationen eingesetzt.
Das HALL-HINGE-EVM Evaluierungsmodul von TI ist mit dem HALL-ADAPTER-EVM kompatibel, um umfassendere magnetische Tests am Sensorportfolio von TI zu ermöglichen.
Merkmale
- Demonstriert den TMAG5231 in einer Applikation mit Scharnierabdeckungsverschluss
- Kompatibel mit HALL-ADAPTER-EVM für die Evaluierung von Produkten des Hall-Effekt-Portfolios
- 3D-Druck-Quelldateien sind für die Anpassung verfügbar
Lieferumfang Kit
- Optionaler AAA-Batteriehalter
- 1/8-Zoll-cube-NdFeB-Magnet (N42)
- 3D-gedruckte Scharnierbaugruppe
Weitere Ressourcen
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PCB-Layout
Inhalt
Veröffentlichungsdatum: 2022-05-24
| Aktualisiert: 2023-10-27