onsemi EVBUM2901G-EVB Evaluierungsboard
Das onsemi EVBUM2901G-EVB Evaluierungsboard ist für HOT-Temperaturtests und die Erzeugung einer variablen Pulsweitenmodulation (PWM) ausgelegt. Das EVBUM2901G-EVB von onsemi unterstützt die Evaluierung von diskreten SiC- und Si-Gehäusen mit einer Durchschlagspannung von bis zu 1.200 V unter Verwendung kompatibler Tochterkarten. Das Board integriert einen PWM-Generator in Laborqualität, eine Wärmequelle und einen +5-V-Ausgang in einem kompakten Design, das über einen einzigen 12-V-Adapter (im Lieferumfang enthalten) mit Strom versorgt wird, und ermöglicht so effiziente und zuverlässige Tests in einem schlanken Setup.
Merkmale
- Hotplate-PCB mit niedrigem thermischen Widerstand
- Hotplate-Temperaturregelung (OFF, 125 °C, 150 °C, 175 °C)
- 10-Puls-PWM-Generator (5 V, Frequenz von30 kHz, Pulsbreite von 0,2 s bis 10 s)
- Vollständig kompatibel mit dem diskreten Doppelimpuls-Tester
- Stromadapter im Lieferumfang enthalten
- Intuitive Benutzeroberfläche mit LED-Anzeigen und Display
Applikationen
- Testen von diskreten Gehäusen (SiC, Si)
- Charakterisierung von Hochspannungsgeräten
- Evaluierung der thermischen Leistung
- Analyse der Pulsweitenmodulation
Übersicht
Veröffentlichungsdatum: 2025-01-20
| Aktualisiert: 2025-02-19