Broadcom AFBR-S4N44P014M NUV-MT Silizium-Photomultiplier

Der Broadcom AFBR-S4N44P014M NUV-MT Silizium-Photomultiplier ist ein Einkanal-SiPM, der für hochempfindliche Präzisionsmessungen von Einzelphotonen optimiert ist. Der AFBR-S4N44P014M nutzt die NUV-MT-Technologie, die einen verbesserten Fotoerkennungs-Wirkungsgrad (PDE) mit einer geringeren Dunkelzählrate und einem geringeren Nebensignaleffekt im Vergleich zur NUV-HD-Technologie kombiniert. Mehrere AFBRS4N44P014M SiPMs können in Kacheln angeordnet werden, um einen großen Bereich abzudecken.

Die klare Epoxid-Formmasse ermöglicht eine Verkapselung für gute mechanische Stabilität und Robustheit. Es ist hochtransparent bis hinunter zu UV-Wellenlängen, was zu einer breiten Reaktion im sichtbaren Lichtspektrum mit hoher Empfindlichkeit im blauen und nahen UV-Bereich führt.

Der Broadcom AFBR-S4N44P014M bietet einen 40 µm SPAD-Raster. Das Bauelement eignet sich ideal für die Erkennung schwacher gepulster Lichtquellen, insbesondere Tscherenkow- oder Szintillationslicht aus den gängigsten organischen (Kunststoff) und anorganischen Szintillatormaterialien (z. B. LSO, LYSO, BGO, NaI, CsI, BaF, LaBr3).

Merkmale

  • Hoher PDE (63 % bei 420 nm)
  • 4-seitig kachelbar, mit hohen Füllfaktoren
  • 40 μm Zellenraster
  • Hochtransparente Epoxid-Schutzschicht
  • Betriebstemperaturbereich von -20 °C bis +60 °C
  • Ausgezeichnete SPTR und CRT
  • Hervorragende Gleichmäßigkeit von Durchschlagspannung und Gain zwischen den Bauteilen
  • RoHS-, CFM- und REACH-konform

Applikationen

  • Erkennung von Röntgen- und Gammastrahlen
  • Nuklearmedizin
  • Positronen-Emissions-Tomographie
  • Schutz und Sicherheit
  • Physikalische Experimente
  • Tscherenkow-Erkennung

Blockdiagramm

Broadcom AFBR-S4N44P014M NUV-MT Silizium-Photomultiplier

Reflow-Löten Diagramm

Leistungsdiagramm - Broadcom AFBR-S4N44P014M NUV-MT Silizium-Photomultiplier
Veröffentlichungsdatum: 2023-05-09 | Aktualisiert: 2023-05-12