Spezialfunktions-Logik

Ergebnisse: 77
Auswählen Bild Teile-Nr. Herst. Beschreibung Datenblatt Verfügbarkeit Preis (EUR) Ergebnisse in der Tabelle nach dem Einheitspreis bei Ihrer Menge filtern. Menge RoHS ECAD Model Produkt Serie Minimale Betriebstemperatur Maximale Betriebstemperatur Verpackung/Gehäuse Verpackung
Texas Instruments SN74LVT18512DGGRG4
Texas Instruments Spezialfunktions-Logik 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 2 000
Mult.: 2 000
: 2 000

Reel
Texas Instruments SN74LVT8986PMG4
Texas Instruments Spezialfunktions-Logik 3.3-V Linking Addres sable Scan Ports Mu Nicht-auf-Lager-Vorlaufzeit 18 Wochen
Min.: 160
Mult.: 160

Tray