SCT040TO65G3

STMicroelectronics
511-SCT040TO65G3
SCT040TO65G3

Herst.:

Beschreibung:
SiC-MOSFETs Silicon carbide Power MOSFET 650 V, 40 mOhm typ., 35 A in a TO-LL package

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STMicroelectronics
Produktkategorie: SiC-MOSFETs
RoHS:  
SMD/SMT
TOLL-8
N-Channel
1 Channel
650 V
35 A
63 mOhms
- 10 V, + 22 V
3 V
42.5 nC
- 55 C
+ 175 C
288 W
Enhancement
Marke: STMicroelectronics
Konfiguration: Single
Abfallzeit: 16 ns
Verpackung: Reel
Verpackung: Cut Tape
Produkt: SiC MOSFETS
Produkt-Typ: SiC MOSFETS
Anstiegszeit: 5 ns
Verpackung ab Werk: 1800
Unterkategorie: Transistors
Technologie: SiC
Regelabschaltverzögerungszeit: 36 ns
Typische Einschaltverzögerungszeit: 11 ns
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Ausgewählte Attribute: 0

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TARIC:
8541290000
CNHTS:
8541290000
CAHTS:
8541290000
USHTS:
8541290065
JPHTS:
854129000
MXHTS:
8541299900
ECCN:
EAR99

650 Siliziumkarbid(SiC)-MOSFETs

STMicroelectronics 650 Siliziumkarbid-(SiC)-MOSFETs verfügen über einen sehr niedrigen Einschaltwiderstand (RDS(on)) pro Fläche zusammen mit einer hervorragenden Schaltleistung. Dies trägt zu effizienteren und kompakteren Systemen bei.Im Vergleich zu Silizium-MOSFETs zeichnen sich SiC-MOSFETs durch einen niedrigen Einschaltwiderstand pro Fläche selbst bei hohen Temperaturen aus. Darüber hinaus verfügen die SiC-MOSFETs verfügen über eine ausgezeichnete Schaltleistung im Vergleich zu erstklassigen IGBTs in allen Temperaturbereichen. Dies vereinfacht das thermische Design von Leistungselektroniksystemen.

Siliziumkarbid-Leistungs-MOSFETs

Die MOSFETs von STMicroelectronics (SiC) verfügen über einen sehr niedrigen RDS(on)-Bereich für eine Nennspannung von 1200 V kombiniert mit einem ausgezeichneten Schaltungsverhalten. Dadurch können effizientere und kompaktere System entwickelt werden. Sie verfügen über ein verbessertes Schaltungsverhalten und einer Betriebsfrequenz mit der niedrigsten Eoff im Vergleich zu Standard-Siliziumtechnologien. Dank der Eigenkörperdiode kann der Formfaktor verringert werden. Durch die maximale Sperrschichttemperatur bei 200 ºC wird ein höherer Systemwirkungsgrad und Zuverlässigkeit erreicht.