EVAL-ADXRS453Z-M Trägheitssensor-Evaluierungssystem

Das Analog Devices Inc. EVAL-ADXRS453Z-M Trägheitssensor-Evaluierungssystem ist eine benutzerfreundliche, modulare Evaluierungsplattform, die für die Bench- oder Desktop-Charakterisierung des ADXRS453 Digitalausgangs-Gyroskops ausgelegt ist.Das System besteht aus dem Trägheitssensor-Evaluierungsboard (ISEB) und einem Satellitenboard für das Trägheitssensor-Bauteil. Das ISEB lässt sich über ein USB-Kabel direkt zu einem PC mit einer USB-Verbindung anschließen, die sowohl Leistung als auch Kommunikation zum Board liefert. Das ISEB ist über ein Flachbandkabel mit dem Satellitenboard verbunden. Über dieses Kabel kann der Satellit für Tests leicht manipuliert oder für Temperatur- oder Feuchtigkeitstests getrennt in eine Klimakammer platziert werden.