CT4447 Hochspannungs-Differential-Sonden

Die  CT4447 Hochspannungs-Differential-Sonden von Cal Test Electronics bieten Bandbreiten von bis zu 30 MHz, ±eine Gain-Genauigkeit von ±2 % und eine Differential-Nennspannung von bis zu 1.400 V. Diese Sonden sind so ausgelegt, dass geerdete Oszilloskope sichere, präzise, potenzialfreie Messungen zwischen zwei Punkten durchführen können. Die Sonden der CT4447-Baureihe wandeln potenzialfreie Signale in massebezogene Niederspannungssignale um, die auf jedem massebezogenen Oszilloskop sicher angezeigt werden. Die  CT4447 Hochspannungs-Differential-Sonden von Cal Test Electronics sind mit Oszilloskopen aller größeren Hersteller kompatibel und eignen sich hervorragend für Präzisions-Leistungshalbleiter, potenzialfreie Messungen, schaltbare Netzteil-Designs und Leistungswandlermessungen.

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Cal Test Prüfspitzen Differential Probe Kit, 30MHz, 1.4kV, 20x/200x, cTUVus List 5Auf Lager
10erwartet ab 14.04.2026
Min.: 1
Mult.: 1

Differential Probe Differential Probe 30 MHz Various 200 mm Black 100 VAC to 240 VAC 350 mA
Cal Test Prüfspitzen Differential Probe Kit, 30MHz, 700V, 10x/100x, cTUVus List 4Auf Lager
7erwartet ab 26.05.2026
Min.: 1
Mult.: 1

Differential Probe Differential Probe 30 MHz Various 200 mm Black 100 VAC to 240 VAC 350 mA