ADRF502x Evaluierungsboards

Analog Devices ADRF502x Evaluierungsboards wurden als vollbestückte, 4-lagige, RO4003-basierte Evaluationsboards für ADRF502x Silizium-Wechselschalter entwickelt. Die Evaluationsboards verfügen über eine 4-lagige Bauweise mit einer Kupferdicke von 0,5 oz (0,7 mil) und dielektrischen Materialien zwischen jeder Kupferschicht. Das Board leitet alle HF- und DC-Spuren zur oberen Kupferschicht. Die inneren und unteren Schichten sind geerdete Ebenen, die eine feste Erde für die HF-Übertragungsleitungen bilden. Konstruiert mit 8 mil Rogers RO4003 Material, bietet das obere Dielektrikum eine gute Hochfrequenz-Leistungsfähigkeit. Die mittleren und unteren Schichten verwenden FR-4-Materialien, um eine Gesamt-Boardstärke von 62 mil zu erreichen.