Analog Devices Inc. ADA4571 Magnetsensor-Evaluierungskits
Analog Devices Inc. ADA4571 magnet Sensor-Evaluierung Kits verfügen über die ADA4571 integrierten AMR-Winkel Magnetsensoren in einer Magnetkonfiguration am Ende der Welle. Diese Evaluierungskits bestehen aus einer ADA4571- oder ADA4571-2-Hauptplatine, einem magnetischen Stimulus auf einer von Hand drehbaren Halterung, einer USB-Schnittstelle und einer SDP-S-Controllerplatine. Sie benötigen die Software LabVIEW 2013 oder 2015 für die grafische Benutzeroberfläche (GUI) von Windows® ist erforderlich.
Die Evaluierungsboards verfügen über einen integrierten 5V-Regler, 4-Kanal- oder 6-Kanal-Simultanabtastung, Analog-Digital-Wandler (ADC) und Jumper zur Aktivierung von Temperaturkompensation und Power-Down-Modus. Die Hauptplatinen verfügen außerdem über Testpunkte und unbestückte Koaxialanschlüsse für die drei oder sechs Geräteausgänge.
Das erforderliche SDP-S Controller Board steuert den ADC auf der Hauptplatine, liest die Ausgänge aus, ändert die digitalen Eingänge, arbeitet mit der GUI zusammen und versorgt das Evaluation Board über den USB-Anschluss mit Strom.
Merkmale
- USB 2.0 Schnittstelle
- Steckbrücke oder computergesteuerter Temperaturkompensationsmodus aktivieren
- Steckbrücke oder computergesteuerter Power-Down-Modus aktivieren
- Mess-Testpunkte und Koaxial-Steckverbinder
Lieferumfang Kit
- ADA4571 oder ADA4571-2 magnetischer Stimulus
- Dipolmagnet
- Von Hand bewegliche Montage
- Rücklesbare Elektronik
Erforderliche Ausrüstung
- 6-V-bis 12-V-Bench-Versorgung (optional)
- LabVIEW 2013 oder 2015 Software
- SDP-S Controllerboard
- USB-Kabel (im Lieferumfang der SDP-S Steuerplatine enthalten)
EVALUIERUNGSSYSTEM FÜR WELLENENDE
Benutzerhandbücher
Verwandte Sensoren
Analog Devices Inc. ADA4571 Integrierte AMR Winkelmagnetsensoren
AMR-Sensoren (Anisotrop Magnetoresistiv) mit integrierten Verstärkern für die Signalkonditionierung und mit ADC-Treibern.
Analog Devices Inc. Magnetfeldsensoren
Integrieren große Mengen von Hallzellentechnologie und Messschaltkreisen zur Minimierung von temperaturbedingten Abweichungen.